grandov.ru страница 1
скачать файл

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ


«СОВРЕМЕННЫЕ структурные МЕТОДЫ в ФТТ»

Томск – 2005
I. Oрганизационно-методический раздел


  1. Цель курса

Курс читается в рамках магистерской подготовки по направлению 510400 – “ФИЗИКА”, программа “Физика полупроводников и микроэлектроника”. Основная цель - формирование у студента представлений о физике, технике и возможностях современных методов исследования твердых тел, практических навыков работы на приборах и умения анализировать результаты измерений.


  1. Задачи учебного курса

Основные задачи данного курса - дать студентам основные представления о физических принципах построения современных методов исследования структуры и составf твердых тел, их конкретной приборной реализации.

Спецкурс базируется на курсах кристаллографии, рентгеноструктурного анализа, электронной микроскопии, физики полупроводников и физического полупроводникового материаловедения.




  1. Требования к уровню освоения курса

После изучения курса студент должен знать принципы работы, возможности и устройство важнейших исследовательских приборов, уметь анализировать информацию, с их помощью получаемую.
II. Содержание курса


  1. Темы и краткое содержание






Тема

Содержание



Взаимодействие ускоренных частиц с твердым телом.

Обзор возникающих явлений. Возможности их использования для анализа структуры и состава твердых тел.



Методы получения ускоренных частиц, управление пучками.

Аналитическая аппаратура.








Растровая электронная микроскопия.

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ.



Рентгеноспектральный микроанализ.

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ



Оже-электронная спектроскопия.

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ



Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ




Вторичная ионная масс-спектроскопия.

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ



Спектрометрия обратного рассеяния Резерфорда

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ




Дифракция быстрых и медленных электронов

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ



Туннельная и атомно-силовая микроскопия.

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ



Электронная микроскопия, в том числе, высокого разрешения.

Физические принципы, техническая реализация, основные блоки, получаемая информация и ее анализ




Тенденции развития микроаналитических методов





III. Распределение часов курса по темам и видам работ


№ пп

Наименование

темы


Всего

часов


Аудиторные занятия (час)

Самостоя-тельная работа

в том числе

лекции

семинары

лаборатор. занятия

1

Взаимодействие ускоренных частиц с твердым телом.

4

2

2

-




2

Методы получения ускоренных частиц, управление пучками. Аналитическая аппаратура.

7

3

2

-

2

3

Растровая электронная микроскопия

20

4

2

12

2

4

Рентгеноспектральный микроанализ.

7

3

4

-




5

Оже-электронная спектроскопия.

9

3

4

-

2

6

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.

4

2

2

-




7

Вторичная ионная масс-спектроскопия.

21

3

4

12

2

8

Спектрометрия обратного рассеяния Резерфорда.

6

2

4

-




9

Дифракция быстрых и медленных электронов

16

2

2

12




10

Туннельная и атомно-силовая микроскопия.

6

2

4

-




11

Электронная микроскопия, в т.ч. высокого разрешения.

32

6

4

18

4

12

Тенденции развития микроаналитических методов

2

2

-

-







ИТОГО

134

34

34

54

12



IV. Форма итогового контроля

Зачет теоретический, зачет по лабораторным работам




V. Учебно-методическое обеспечение курса


  1. Рекомендуемая литература (основная):

  1. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. В 2-х книгах. // пер. с англ. под ред. В.И. Петрова. – М.: Мир, 1984.

  2. Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. – М.: Металлургия, 1982. – 632 с.

  3. Методы анализа поверхностей. /Под ред. А. Зандерны. - М.: Мир, 1979. - 562 с.

  4. Основы аналитической электронной микроскопии. / под ред. Дж. Грена. Дж. И. Гольштейна, Д.К. Джоя, А.Д. Ромига. – М.: Металлургия, 1990. – 584 с.




  1. Рекомендуемая литература (дополнительная):

  1. Электронно-зондовый анализ. /Под ред. И.Б. Боровского. - М.: Мир, 1974. - 260 с.

  2. Практические методы в электронной микроскопии. /Под ред. О.М. Глоэра. - Л.: Машиностроение, 1980. - 375 с.

  3. Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении. // под ред С. Амелинкса, Р. Геверса, Дж. Ван Ланде / пер. с англ. под ред. М.П. Усикова. М.: Металлургия, 1984. – 504 с.

  4. Анализ поверхности методами ОЖЕ и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. /Под ред. Д. Биггса, М.П. Сиха. - М.: Мир, 1967. - 600 с.

  5. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. - М.: Мир. - 1989. - 568 с.

  6. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. - М.: Мир - 1989. - 342 с.



Автор:

Ивонин Иван Варфоломеевич, д.ф.-м.н., профессор
скачать файл



Смотрите также:
Рабочая программа дисциплины опд. Ф. 02
403.32kb.
Рабочая программа учебной дисциплины ландшафтное проектирование
619.28kb.
Рабочая программа учебной дисциплины компьютерная графика в садоводстве
320.76kb.
Рабочая программа дисциплины
132.11kb.
Рабочая программа учебной дисциплины «теория электросвязи» для специальностей
260.38kb.
Рабочая программа учебной дисциплины управление разработкой и реализацией нового продукта для подготовки бакалавров по профилю
376.48kb.
Рабочая программа дисциплины «Теоретические основы информатики» /сост. С. А. Литвинова – Бузулук: бгти (филиал) огу, 2011. 15 с
245.31kb.
Рабочая программа дисциплины «история отечественного государства и права» Направление: 030500. 62 Юриспруденция Профиль: общий
417.82kb.
Рабочая программа дисциплины «Электроника и микропроцессорная техника» / сост. О. С. Манакова – Бузулук: бгти (филиал) огу, 2011. 30 с
549.79kb.
Рабочая программа дисциплины "Нейрокомпьютерные системы"
212.1kb.
Программа дисциплины дисциплина од. А. 06 История отечественной культуры Иркутск 2011 Рабочая программа дисциплины
752.98kb.
Культура, литература и религия изучаемого региона рабочая программа дисциплины
660.69kb.